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有机半导体器件制备系统

发布者: [发表时间]:2023-12-04 [来源]: [浏览次数]:

仪器型号:FS380-S8

生产厂家:深圳市矢量科学仪器有限公司

主要规格和技术参数

1、样品架系统

*标准的样品盘可以容纳4个32 mm x 32 mm的蒸镀基片(或其他尺寸)。

*掩膜板到基片的距离小于0.2mm.

2、蒸发沉积系统

蒸发源

*有8热阻蒸发源,用于材料蒸发。有机、金属通用,距基片大约35cm。

*蒸镀速率可精确到0.1A,实现蒸镀速率0.01 A/S的精度显示。

膜厚控制

*采用INFICON SQC-310C膜厚仪,膜厚精度误差在正负0.01A/S,可显示4个膜厚探头的读数。

*@可蒸金属:以铝为标准。蒸镀速率:以铝为标准:0.5-10A/s稳定可控,蒸镀速率波动≤±0.1A/S。

@基片厚度均匀性:±5%,测试方法:多点测量:(最大值-最小值)/(最大值+最小值),单片尺寸:不大于100*100mm。

@有机物:以NPB或Alq3为标准: 蒸镀速率0.5-10A/s稳定可控,蒸镀速率波动≤±0.1A/S。

@基片厚度均匀性:±5%,测试方法:多点测量:(最大值-最小值)/(最大值+最小值),单片尺寸:不大于100*100mm。

掩膜版系统:掩模板图案尺寸±0.05mm。

主要功能及特色

有机半导体薄膜系通用于有机和无机材料的薄膜制备,8组蒸发源,可兼容蒸镀金属和有机材料,能够同时蒸镀4个器件,并且1轮蒸镀(1个run)可实现4种不同器件结构的制备。该设备可以安装4个32 mm*32 mm的基片托盘,通过箱体外的控制,能够在真空状态下更换掩膜板,并且蒸镀图案可更改。大大降低了制备难度,提升了器件制备效率。

预约网址:http://202.113.64.51/genee/