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半导体测试仪

发布者: [发表时间]:2023-12-04 [来源]: [浏览次数]:


仪器型号:Keithley 4200A-SCS

生产厂家:Tekronix

主要规格和技术参数

1.中功率直流IV测量单元:

电流表测试量程: 100 nA-105mA,分辨率:50 fA-50 nA,精度:30 pA-3 μA;

电压表测试量程:200 mV-210 V,分辨率:0.2 μV-200 μV,精度:100 μV-3 mV;

2.远端前置放大器:电流表测试量程最小可达1 pA,分辨率为10 aA,精度10 fA;

3.CV测量单元:频率范围:不小于1 KHz-10 MHz;直流偏置电压范围:≥±30 V

4.快速脉冲IV测量单元:可编程双通道脉冲,电压电流同步测量;频率范围:不小于1 Hz-50 MHz;周期:不小于20 ns-1s;

5.系统扩展性:半导体特性综合测试仪后面板具有不少于9个基于PCI总线的插槽,用于插入核心测量部件—SMU,插槽为竖型插入式。

主要功能及特色:主要用于研究材料与器件的电学性能,对新型半导体传感材料的测试、生物传感器件的测试与新型光电功能材料的器件的电流、电压、电容等信号进行测试,比如:直流IV测试、脉冲I-V等。

预约网址:http://202.113.64.51/genee/