仪器介绍

透射电子显微镜（TEM）是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。它通过电子枪发射电子束并在镜筒内被加速，穿透薄样品，产生带有样品结构信息的透射电子，经成像系统放大，获取样品内部结构图像，可直观展示样品纳米级、亚显微级超微结构。广泛应用于观察材料或生物样本的内部结构和形态。研究院的TEM配有选区电子衍射功能，可以通过衍射图样来分析材料的晶体结构。

工作原理

透射电镜是把经加速和聚焦的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞，而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此，可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。

样品要求

1、样品一般应为厚度小于100 nm的固体；

2、样品不含有磁性元素；

3、样品在高真空中能保持稳定；

4、不含有水分或其它易挥发物，如果含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干。

注意事项：

1、 务必保证样品干燥。

2、 放样品前，检查样品是否有松动的迹象，样品杆及“O”圈是否有污染。严禁用手触碰“O”圈以前的任何部分。

3、 必须如实填写是否含有磁性元素，不能测磁性样品。

4、 禁止在电子束聚焦时长时间照射荧光屏，易打坏荧光屏。

5、 使用CCD相机拍照时，电子束一定要散开，不能让电子束处于聚焦状态。

6、 禁止长时间处于相机拍摄状态，易损坏相机。

7、 不用CCD相机拍照时或调整放大倍数或Beam时，及时把荧光屏放下，防止过强的电子束照在相机上。